我們知道，超聲測量儀器，無論是測厚儀還是探傷儀，本質上都是“計時儀器”，即記錄脈沖的發(fā)送和接收、計算“發(fā)送”和“接收”的時間差、乘以輸入的超聲波在被測介質中傳遞的速度(即該介質中的超聲波聲速)，由此得出介質的厚度、或者是缺陷的在介質中的位置。兩者的差異，概括而言，“超聲波測厚”更關注脈沖信號記錄的精確性和唯一性，而“超聲波探傷”更關注脈沖信號的深度傳遞和信號捕捉的全面性(即不可遺漏、不可錯過)。

　　通常情況下，超聲測厚不需要超聲波傳遞得太遠(如果太厚，就不需要太精確的測量了)，所以在超聲測厚中，儀器的標稱范圍，其上限一般都會是508mm，這個上限數(shù)值是一種“歷史沿革”，即最早的超聲波測厚，有幾個邊界條件：

　　1，介質的超聲波聲速在5900m/s上下;

　　2，只考慮超聲波在介質中的散射衰減、且該衰減水平與普通碳鋼(比如45#鋼)相近;

　　3，儀器的電路結構所能給予換能器(也就是探頭)的能量是有限的;

　　4，需要多個探頭的交替使用才能覆蓋全量程。

　　自超聲測厚技術誕生至今，材料學和工藝學的發(fā)展豐富多彩，被測介質的聲學特性也呈現(xiàn)出令人眼花繚亂的多樣性，因此，在超聲測厚技術的應用和超聲測厚儀器的選擇上，不能圉于傳統(tǒng)的認知。

　　超聲測厚儀器的研制、生產和應用，已歷時百年、歷經“五代”。

　　第一代儀器，采用的是“始脈沖——回波”技術。

　　即，以“換能器的晶振片起始脈沖”和“第一次底面回波”的時間差為基礎來計算厚度。國內的普通測厚儀基本上都是這種技術。

　　第二代儀器，采用的是“界面——回波”技術。

　　即，事先剔除脈沖信號從晶振片開始到被測物表面的時間;

　　這種技術的出現(xiàn)，其目的本來是為了剔除“晶振片到探頭保護膜的距離”給測厚帶來的誤差，事實上，這個“距離”，與要測的厚度通常不在一個數(shù)量級上，因此，其適用性只在一個很窄的范圍內才有意義。這種技術自本世紀初，在國外的儀器中開始有大量的應用，但作為一種“權宜之計”的過渡技術，很快被跨越，不到五年的時間，就讓出了它的“領先地位”。

　　第三代儀器，采用的是“回波——回波”技術。

　　即，以“第一次底面回波”和“第二次底面回波”的時間差為基礎來計算厚度;這種技術，與“界面——回波”技術有相同的地方，即，都不用考慮“晶振片到探頭保護膜的距離”帶來的測量誤差，但同樣，只在小范圍內才有適用意義。

　　這種技術得以應用，其更大意義在于：該技術改變了儀器的電路結構，使得儀器可以給換能器(探頭)更大的能量、并能更好地分檢回波信號，因此，應對“信號衰減”，采用這種技術的儀器比前兩代儀器有了質的提升;也因此，“回波—回波”，成了迄今為止先進超聲波測厚儀共同的技術基礎。

　　第四代儀器，采用的是“A掃描信號測厚”技術。

　　前面三代都是“讀數(shù)型測厚儀”，不管讀哪幾次波，最終都是靠事先設定的程序由儀器來判定和計算的。而“A掃測厚儀”則是將所有的信號都顯示在屏幕上，由操作者自行判斷、并且可以計算任意兩次波的時間差，也就是說，將測量的主動權交給了操作者，這對于分析型測厚、以及雜波信號較多的測厚非常有幫助;

　　第五代儀器，采用的是單晶探頭。

　　前面四代測厚儀，使用的都是雙晶探頭(只有在超薄件測厚中，才有專門的機型使用高頻單晶探頭)，而雙晶探頭，由于晶振片排列的結構性因素，超聲波的傳遞呈現(xiàn)出一個“V”型路徑，這意味著，晶振片發(fā)射和接收信號的有效面積勢必受到“V”路徑的影響，也就是說，每個雙晶探頭的測厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。